它是一種簡單的正置金相顯微鏡，專門用于礦物、金屬碎片和半導體晶片的表面檢查和觀察等應用。
纖薄的機身，不占用太多空間，作簡單，易于使用，使用無壓力，易于常規(guī)
檢查。
采用成熟的反光科勒照明。 LED （3W） 規(guī)格。